Založit si vlastní profil
Veřejný přístup
Zobrazit všechny2 články
0 článků
dostupné
nedostupné
Vychází ze zplnomocnění pro financování
Spoluautoři
- Hongxia JinSamsung Research AmericaE-mailová adresa ověřena na: acm.org
- Yilin ShenAI Research ScientistE-mailová adresa ověřena na: samsung.com
- Kumpati NarendraHarold W. Cheel Professor of Electrical Engineering,Yale UniversityE-mailová adresa ověřena na: yale.edu
- Abhishek PatelSr. Research Engineer, Samsung Research AmericaE-mailová adresa ověřena na: samsung.com
- Wei LuSingapore University of Technology and DesignE-mailová adresa ověřena na: sutd.edu.sg
- Bailin WangMIT CSAILE-mailová adresa ověřena na: mit.edu
- Xiangyu ZengE-mailová adresa ověřena na: columbia.edu
- Kechen QinAmazonE-mailová adresa ověřena na: amazon.com
- Cheng LiCodaMetrixE-mailová adresa ověřena na: codametrix.com
- Virgil PavluNortheastern UniversityE-mailová adresa ověřena na: ccs.neu.edu
- Kalpa GunaratnaStaff Research Scientist, Samsung Research AmericaE-mailová adresa ověřena na: samsung.com
- Javed AslamProfessor, Khoury College of Computer Sciences, Northeastern UniversityE-mailová adresa ověřena na: ccs.neu.edu
- Larry HeckProfessor, Georgia Institute of TechnologyE-mailová adresa ověřena na: ieee.org
Sledovat