Založit si vlastní profil
Veřejný přístup
Zobrazit všechny12 článků
1 článek
dostupné
nedostupné
Vychází ze zplnomocnění pro financování
Spoluautoři
- Guohai SituShanghai Institute of Optics and Fine MechanicsE-mailová adresa ověřena na: siom.ac.cn
- Lei TianBoston University, UC Berkeley, MITE-mailová adresa ověřena na: bu.edu
- Fei WangShanghai Institute of Optics and Fine MechanicsE-mailová adresa ověřena na: siom.ac.cn
- Shanshan ZhengHangzhou Institute for Advanced Study, University of Chinese Academy of SciencesE-mailová adresa ověřena na: ucas.ac.cn
- Ni ChenUniversity of ArizonaE-mailová adresa ověřena na: snu.ac.kr
- Jiabei ZhuBoston UniversityE-mailová adresa ověřena na: bu.edu
- Waleed TahirSenior imaging scientist at PathAIE-mailová adresa ověřena na: bu.edu
- Yunzhe LiUniversity of California, BerkeleyE-mailová adresa ověřena na: berkeley.edu
- Roberto PaiellaProfessor of Electrical and Computer Engineering, Boston UniversityE-mailová adresa ověřena na: bu.edu
- Joseph L. GreenePh.D Candidate, Boston UniversityE-mailová adresa ověřena na: bu.edu