Založit si vlastní profil
Spoluautoři
- Ho Won JangDepatment of Materials Science and Engineering, Seoul National UniversityE-mailová adresa ověřena na: snu.ac.kr
- Chong-Yun KangKorea Institute of Science and TechnolgoyE-mailová adresa ověřena na: kist.re.kr
- Jun Min SuhMassachusetts Institute of TechnologyE-mailová adresa ověřena na: mit.edu
- Young Geun SongSamsung ElectronicsE-mailová adresa ověřena na: korea.ac.kr
- Hi Gyu MoonKorea Institute of ToxicologyE-mailová adresa ověřena na: kitox.re.kr
- Ki Chang KwonKorea Research Institute of Standards and Science (KRISS)E-mailová adresa ověřena na: kriss.re.kr
- Soo Young KimProfessor, Korea UniversityE-mailová adresa ověřena na: korea.ac.kr
- Woonbae SohnPostdoctoral Researcher, Korean Basic Science InstituteE-mailová adresa ověřena na: kbsi.re.kr
- Kyoung Soon ChoiPh.D., Chungnam Innovation Agency of Science and TechnologyE-mailová adresa ověřena na: ciast.re.kr
- Seokwoo JeonProfessor at MSE, Korea Univ.E-mailová adresa ověřena na: korea.ac.kr
- Kootak HongChonnam National UniversityE-mailová adresa ověřena na: jnu.ac.kr
- Donghwi ChoSenior Researcher, Korea Research Institute of Chemical Technology (KRICT)E-mailová adresa ověřena na: krict.re.kr
- Wooyoung LeeProfessor of Material Science, Yonsei UniversityE-mailová adresa ověřena na: yonsei.ac.kr
Sledovat
Young-Seok Shim
Korea University of Technology and Education
E-mailová adresa ověřena na: kist.re.kr - Domovská stránka