Založit si vlastní profil
Veřejný přístup
Zobrazit všechny24 článků
1 článek
dostupné
nedostupné
Vychází ze zplnomocnění pro financování
Spoluautoři
- francois bremondINRIAE-mailová adresa ověřena na: inria.fr
- Anna-Louise EllisUniversity of ReadingE-mailová adresa ověřena na: reading.ac.uk
- Jorg HackerA/Professor, School of the Environment, Flinders UniversityE-mailová adresa ověřena na: flinders.edu.au
- Jeffrey WalkerProfessor, Monash UniversityE-mailová adresa ověřena na: monash.edu
- Steve MaybankEmeritus Professor in the Department of Computer Science, Birkbeck College, LondonE-mailová adresa ověřena na: dcs.bbk.ac.uk
- Gertjan BurghoutsDeep Learning for VisionE-mailová adresa ověřena na: tno.nl
- Klamer SchutteTNO, Intelligent ImagingE-mailová adresa ověřena na: TNO.nl
- Bernhard RinnerProfessor, Alpen-Adria-Universität KlagenfurtE-mailová adresa ověřena na: aau.at
- Dr Andrew A. AdamsDeputy Director of the Centre for Business Information Ethics, Meiji University, Tokyo, JapanE-mailová adresa ověřena na: meiji.ac.jp
- Anthony HoogsSenior Director of Computer Vision, Kitware, Inc.E-mailová adresa ověřena na: kitware.com
- Fatih PorikliQualcomm, Australian National UniversityE-mailová adresa ověřena na: anu.edu.au
- sharath pankantiibm researchE-mailová adresa ověřena na: us.ibm.com
- Pascal FuaProfessor Computer Science, EPFLE-mailová adresa ověřena na: epfl.ch
- François FleuretUniversity of GenevaE-mailová adresa ověřena na: fleuret.org
- James CrowleyProfessor at Grenoble INP, Researcher at INRIA, LIGE-mailová adresa ověřena na: crowley-coutaz.fr
- Jeroen van RestSr Consultant Security, Sensors & Privacy, TNOE-mailová adresa ověřena na: tno.nl
- David C HoggUniversity of LeedsE-mailová adresa ověřena na: leeds.ac.uk
- Jose A. Rodriguez-SerranoSenior Lecturer at Esade Business SchoolE-mailová adresa ověřena na: esade.edu
- Jerome BerclazPercipient.aiE-mailová adresa ověřena na: percipient.ai
- Prof. Sergio A Velastin FIET SMIEEVisiting Professor, Queen Mary University of LondonE-mailová adresa ověřena na: ieee.org