Založit si vlastní profil
Spoluautoři
- Joonhyung KimKunsan National Univ.E-mailová adresa ověřena na: kunsan.ac.kr
- Soyoung KangKAISTE-mailová adresa ověřena na: kaist.ac.kr
- Byoung-Chul MinKorea Institute of Science and Technology (KIST)E-mailová adresa ověřena na: kist.re.kr
- Seung-Tak RyuKAIST, KoreaE-mailová adresa ověřena na: kaist.ac.kr
- JAE-SHIN LEEUniversity of UlsanE-mailová adresa ověřena na: ulsan.ac.kr
- Wu Lu, ProfessorThe Ohio State UniversityE-mailová adresa ověřena na: osu.edu
- Hyun-chul ParkSamsung ElectronicsE-mailová adresa ověřena na: samsung.com
- kwangjo kimProfessor, Computer Science Department, KAISTE-mailová adresa ověřena na: kaist.ac.kr
- Hyunhee ParkMyongji University (명지대학교)E-mailová adresa ověřena na: mju.ac.kr
- Hanhoon ParkAssistant Professor of Electronic Engineering, Pukyong National UniversityE-mailová adresa ověřena na: hanyang.ac.kr
- Seokmin HongKISTE-mailová adresa ověřena na: kist.re.kr
- Cheul LeeDepartment of Thoracic and Cardiovascular Surgery, Seoul St. Mary’s HospitalE-mailová adresa ověřena na: catholic.ac.kr
Sledovat
Chul Soon Park
Professor of Electrical Engineering, KAIST
E-mailová adresa ověřena na: kaist.ac.kr - Domovská stránka