Založit si vlastní profil
Veřejný přístup
Zobrazit všechny9 článků
0 článků
dostupné
nedostupné
Vychází ze zplnomocnění pro financování
Spoluautoři
- Gwan-Hyoung LeeProfessor, Materials Science and Engineering, Seoul National UniversityE-mailová adresa ověřena na: snu.ac.kr
- James C. HoneDepartment of Mechanical Engineering, Columbia UniversityE-mailová adresa ověřena na: columbia.edu
- Huije RyuSamsung Advanced Institute of TechnologyE-mailová adresa ověřena na: samsung.com
- Chul-Ho LeeAssociate Professor, Seoul National University & Korea University (2014~2022)E-mailová adresa ověřena na: snu.ac.kr
- Jangyup SonKIST / University of Science and Technology (UST)E-mailová adresa ověřena na: kist.re.kr
- Minsu SeolSamsung Advanced Institute of Technology, Samsung ElectronicsE-mailová adresa ověřena na: samsung.com
- Young Duck KimAssociate Professor, Department of Physics, Kyung Hee University, Seoul 02447, Republic of KoreaE-mailová adresa ověřena na: khu.ac.kr
- Arend M. van der ZandeProfessor of Materials Science and Engineering, University of Illinois at Urbana-ChampaignE-mailová adresa ověřena na: illinois.edu
- Dongjea SeoPost-Doctoral Associate, University of Minnesota, Department of Electrical and ComputerE-mailová adresa ověřena na: umn.edu
- Prof. Jeehwan KimMITE-mailová adresa ověřena na: mit.edu
Sledovat
Junyoung Kwon
Samsung Advanced Institute of Technology
E-mailová adresa ověřena na: samsung.com - Domovská stránka