Založit si vlastní profil
Veřejný přístup
Zobrazit všechny2 články
5 článků
dostupné
nedostupné
Vychází ze zplnomocnění pro financování
Spoluautoři
- Kwai Man LukProfessor of Electronic Engineering, City University of Hong KongE-mailová adresa ověřena na: cityu.edu.hk
- Steve Hang WongCity University of Hong KongE-mailová adresa ověřena na: cityu.edu.hk
- Chi Hou ChanChair Professor of Electronic Engineering, City University of Hong KongE-mailová adresa ověřena na: cityu.edu.hk
- Quan XueCity University of Hong KongE-mailová adresa ověřena na: cityu.edu.hk
- Xiu Yin ZHANG, PhD, IEEE FellowProfessor,South China University of TechnologyE-mailová adresa ověřena na: scut.edu.cn
- Kai Fong LeeDean Emeritus, School of Engineering, University of MississippiE-mailová adresa ověřena na: olemiss.edu
- Corbett RowellResearch Director, Rohde & SchwarzE-mailová adresa ověřena na: rohde-schwarz.com
- MAK, Chi Lun AlanLSCME-mailová adresa ověřena na: ieee.org
- Steven YangStandards and Calibration LaboratoryE-mailová adresa ověřena na: itc.gov.hk
- Kwok W. LeungCity University of Hong KongE-mailová adresa ověřena na: cityu.edu.hk
- Samuel KoInnovation and Technology CommissionE-mailová adresa ověřena na: itc.gov.hk