Založit si vlastní profil
Veřejný přístup
Zobrazit všechny22 článků
3 články
dostupné
nedostupné
Vychází ze zplnomocnění pro financování
Spoluautoři
G J ShifletProfessor of Materials Science, University of VirginiaE-mailová adresa ověřena na: virginia.edu
Terry TrittProfessor of Physics, Clemson UniversityE-mailová adresa ověřena na: g.clemson.edu
William L. JohnsonCalifornia Institute of TechnologyE-mailová adresa ověřena na: caltech.edu
Takeshi EgamiProfessor of Materials Science and Physics, University of TennesseeE-mailová adresa ověřena na: utk.edu
Jack SimonsonFarmingdale State CollegeE-mailová adresa ověřena na: farmingdale.edu
Wenjie XieTechnische Universität DarmstadtE-mailová adresa ověřena na: mr.tu-darmstadt.de
SA WolfUniversity of VirginiaE-mailová adresa ověřena na: virginia.edu
Despina LoucaProfessor of Physics, University of VirginiaE-mailová adresa ověřena na: virginia.edu
Jian HeClemson UniversityE-mailová adresa ověřena na: clemson.edu
Mircea R. StanVirginia Microelectronics Consortium (VMEC) Professor, University of VirginiaE-mailová adresa ověřena na: virginia.edu
J GopalakrishnanSolid State and structural Chemistry Unit, Indian Institute of Science, Bangalore, IndiaE-mailová adresa ověřena na: iisc.ac.in
Di WuShaanxi Normal University/Southern University of Science and Technology/University of VirginiaE-mailová adresa ověřena na: snnu.edu.cn
Xinfeng Tang (唐新峰)Wuhan University of TechnologyE-mailová adresa ověřena na: whut.edu.cn
Dmytro ApalkovSr. Principal Engineer/Sr. Director, Modeling, Samsung Semiconductor R&DE-mailová adresa ověřena na: samsung.com
anke weidenkaffTU DarmstadtE-mailová adresa ověřena na: mr.tu-darmstadt.de
Rama VenkatasubramanianJohns Hopkins University Applied Physics LabE-mailová adresa ověřena na: jhuapl.edu
Jiwei LuAFOSR