Založit si vlastní profil
Veřejný přístup
Zobrazit všechny7 článků
4 články
dostupné
nedostupné
Vychází ze zplnomocnění pro financování
Spoluautoři
- Joe CampbellProfessor Electrical and Computer Engineering, University of VirginiaE-mailová adresa ověřena na: virginia.edu
- Andreas BelingUniversity of VirginiaE-mailová adresa ověřena na: virginia.edu
- Kejia LiUniversity of VirginiaE-mailová adresa ověřena na: virginia.edu
- Qiugui ZhouUniversity of VirginiaE-mailová adresa ověřena na: virginia.edu
- Qinglong LiPh.D. Student at ECE, University of VirginiaE-mailová adresa ověřena na: virginia.edu
- Yitang DaiBeijing University of Posts and TelecommunicationsE-mailová adresa ověřena na: bupt.edu.cn
- Kun XuProfessor in Electronics Engineering, Beijing University of Posts and TelecommunicationsE-mailová adresa ověřena na: bupt.edu.cn
- Yang Shen (沈扬)University of VirginiaE-mailová adresa ověřena na: virginia.edu
- Franklyn QuinlanPhysicist, National Institute of Standards and TechnologyE-mailová adresa ověřena na: nist.gov
- Tara FortierNational Institute of Standards and Technology, BoulderE-mailová adresa ověřena na: nist.gov
- Jizhao ZangNIST & University of Colorado BoulderE-mailová adresa ověřena na: nist.gov
- Takuma NakamuraNational Institute of Standards and TechnologyE-mailová adresa ověřena na: nist.gov
- Jian WuMicrosoft CorpE-mailová adresa ověřena na: microsoft.com
- Xihua ZouSouthwest Jiaotong University, ChinaE-mailová adresa ověřena na: swjtu.edu.cn
- Christian J. LongNational Institute of Standards and TechnologyE-mailová adresa ověřena na: nist.gov
- Zhongming ZengE-mailová adresa ověřena na: sinano.ac.cn
- Lianshan YanSouthwest Jiaotong University