Založit si vlastní profil
Veřejný přístup
Zobrazit všechny4 články
0 článků
dostupné
nedostupné
Vychází ze zplnomocnění pro financování
Spoluautoři
- Erik K. HobbieNorth Dakota State UniversityE-mailová adresa ověřena na: ndsu.edu
- Jack F DouglasNIST, GaithersburgE-mailová adresa ověřena na: nist.gov
- Angela R. Hight WalkerNational Institute of Standards and TechnologyE-mailová adresa ověřena na: nist.gov
- Anthony KotulaNational Institute of Standards and TechnologyE-mailová adresa ověřena na: nist.gov
- Steven D. HudsonNIST, Polymer and Complex FluidsE-mailová adresa ověřena na: nist.gov
- Jonathan E SeppalaNational Institute of Standards and TechnologyE-mailová adresa ověřena na: nist.gov
- Jai A. PathakAssociate Director, AstraZeneca, Global Technical OperationsE-mailová adresa ověřena na: astrazeneca.com
- Chad SnyderNational Institute of Standards and TechnologyE-mailová adresa ověřena na: nist.gov
- Jeff SimpsonFull Professor of Physics, Towson UniversityE-mailová adresa ověřena na: towson.edu
- Liliane LEGERUniversité Paris SaclayE-mailová adresa ověřena na: u-psud.fr
- Savvas HatzikiriakosProfessor of Chemical and Biological Engineering, The University of British ColumbiaE-mailová adresa ověřena na: ubc.ca
- Jaehun ChunPacific Northwest National LaboratoryE-mailová adresa ověřena na: pnnl.gov
- David I. BigioAssociate Professor of Mechanical Engineering, University of MarylandE-mailová adresa ověřena na: umd.edu
- Prasad SarangapaniE-mailová adresa ověřena na: alumni.nd.edu
- João T CabralImperial College LondonE-mailová adresa ověřena na: imperial.ac.uk
- Sivaram ArepalliRice University and NanoScienceEngineeringConsultantsE-mailová adresa ověřena na: rice.edu
- Marcus T. CiceroneGeorgia Institute of TechnologyE-mailová adresa ověřena na: gatech.edu
- Chris W MacoskoUniversity of MinnesotaE-mailová adresa ověřena na: umn.edu
- Ji Yeon HuhPrincipal Investigator, DuPont Electronics & ImagingE-mailová adresa ověřena na: dupont.com
- David J PineSilver Professor of Physics, New York UniversityE-mailová adresa ověřena na: nyu.edu