Založit si vlastní profil
Veřejný přístup
Zobrazit všechny4 články
2 články
dostupné
nedostupné
Vychází ze zplnomocnění pro financování
Spoluautoři
- Keisuke KinoshitaResearch Scientist at GoogleE-mailová adresa ověřena na: ieee.org
- Marc DelcroixNTT Communication Science LaboratoriesE-mailová adresa ověřena na: ieee.org
- Shoko ArakiNTT Communication Science LaboratoriesE-mailová adresa ověřena na: ieee.org
- Takuya YoshiokaAssemblyAIE-mailová adresa ověřena na: assemblyai.com
- Atsunori OgawaNTT Communication Science LaboratoriesE-mailová adresa ověřena na: ieee.org
- Masakiyo FujimotoSenior researcher, National Institute of Information and Communications TechnologyE-mailová adresa ověřena na: nict.go.jp
- Nobutaka ItoUniversity of Tokyo, Japan (formerly NTT)E-mailová adresa ověřena na: k.u-tokyo.ac.jp
- Rintaro Ikeshita (池下 林太郎)NTTE-mailová adresa ověřena na: ieee.org
- Shinji WatanabeCarnegie Mellon UniversityE-mailová adresa ověřena na: cmu.edu
- Reinhold Haeb-UmbachProfessor of Communications Engineering, University of PaderbornE-mailová adresa ověřena na: nt.uni-paderborn.de
- Takuya HiguchiAppleE-mailová adresa ověřena na: apple.com
- Hiroshi G OkunoProfessor Emeritus, Kyoto University, Adjunct Researcher, Waseda UniversityE-mailová adresa ověřena na: nue.org
- Hiroshi SawadaNTT CorporationE-mailová adresa ověřena na: lab.ntt.co.jp
- Toshio IRINOProfessor of Systems Engineering, Wakayama UniversityE-mailová adresa ověřena na: sys.wakayama-u.ac.jp
- Atsushi NakamuraGraduate School of Natural Sciences, Nagoya City UniversityE-mailová adresa ověřena na: ieee.org
- Mehrez SoudenSr. Manager, Apple Inc.E-mailová adresa ověřena na: gatech.edu
- Walter KellermannUniversity Erlangen-NurembergE-mailová adresa ověřena na: LNT.de
- Takaaki HoriAppleE-mailová adresa ověřena na: apple.com
- Kateřina ŽmolíkováResearch scientist, MetaE-mailová adresa ověřena na: meta.com
- Armin SehrOTH RegensburgE-mailová adresa ověřena na: oth-regensburg.de
Sledovat
Tomohiro Nakatani
NTT Communication Science Laboratories
E-mailová adresa ověřena na: ieee.org - Domovská stránka