Založit si vlastní profil
Veřejný přístup
Zobrazit všechny2 články
0 článků
dostupné
nedostupné
Vychází ze zplnomocnění pro financování
Spoluautoři
- John L. VolakisProfessor, Florida International UniversityE-mailová adresa ověřena na: fiu.edu
- Chi-Chih ChenOhio State University Electrical and Comupter Engineering DepartmentE-mailová adresa ověřena na: osu.edu
- John W. HalloranDepartment of Materials Science and Engineering, University of MichiganE-mailová adresa ověřena na: umich.edu
- Stavros KoulouridisUniversity of Patras, Florida International UniversityE-mailová adresa ověřena na: upatras.gr
- Bas, Umit CelalettinAppleE-mailová adresa ověřena na: usc.edu
- Noboru KikuchiUniversity of Michigan, Toyota Central R&D LabsE-mailová adresa ověřena na: umich.edu
- Safa Salmanohio state universityE-mailová adresa ověřena na: osu.edu
- Zachary WingE-mailová adresa ověřena na: acmtucson.com
- Farooq KhanExiumE-mailová adresa ověřena na: exium.net
- Hongyu ZhouSamsung Research AmericaE-mailová adresa ověřena na: samsung.com
- J. Brian FowlkesProfessor of Radiology and Biomedical Engineering, University of MichiganE-mailová adresa ověřena na: umich.edu
- Paul L CarsonBRS Collegiate Professor of Radiology, University of MichiganE-mailová adresa ověřena na: umich.edu
- Kubilay SertelAssociate Professor, Electrical and Computer Engineering, ElectroScience Laboratory, The Ohio StateE-mailová adresa ověřena na: ece.osu.edu
- Ugur OlgunSnap IncE-mailová adresa ověřena na: snap.com
- Behzad BiglarbegianUniversity of WaterlooE-mailová adresa ověřena na: maxwell.uwaterloo.ca