Založit si vlastní profil
Veřejný přístup
Zobrazit všechny1 článek
0 článků
dostupné
nedostupné
Vychází ze zplnomocnění pro financování
Spoluautoři
- Andrew WorthenTechnical Staff, MIT Lincoln LaboratoryE-mailová adresa ověřena na: ll.mit.edu
- kyungwhoon cheunPresident and CTO, Samsung ElectronicsE-mailová adresa ověřena na: samsung.com
- Sanghoon KimQualcommE-mailová adresa ověřena na: qti.qualcomm.com
- Alfred HeroJohn H Holland Distinguished University Professor, University of MichiganE-mailová adresa ověřena na: eecs.umich.edu
- David L NeuhoffUniversity of MichiganE-mailová adresa ověřena na: umich.edu
- Shih Yu ChangProfessor of Applied Data Science, San Jose State UniversityE-mailová adresa ověřena na: sjsu.edu
- Stéphane LafortuneProfessor of Electrical Engineering and Computer Science, University of Michigan, USAE-mailová adresa ověřena na: umich.edu
- Masaaki Katayama / 片山正昭Nagoya Univ.E-mailová adresa ověřena na: nuee.nagoya-u.ac.jp
- George HaddadProfessor,univ.of Mich.E-mailová adresa ověřena na: umich.edu
- Achilleas AnastasopoulosAssociate Professor of EECS, University of MichiganE-mailová adresa ověřena na: umich.edu
- Steven HongPhD Graduate, Stanford UniversityE-mailová adresa ověřena na: stanford.edu
- Cem TekinAssociate Professor, Bilkent University, TurkeyE-mailová adresa ověřena na: ee.bilkent.edu.tr