Založit si vlastní profil
Veřejný přístup
Zobrazit všechny5 článků
2 články
dostupné
nedostupné
Vychází ze zplnomocnění pro financování
Spoluautoři
- Naresh IyerGE ResearchE-mailová adresa ověřena na: ge.com
- Weizhong Yan, PhD, Fellow PHMSGE Global Research CenterE-mailová adresa ověřena na: ge.com
- Kai GoebelPalo Alto Research CenterE-mailová adresa ověřena na: parc.com
- Feng (Fred) XueGE ResearchE-mailová adresa ověřena na: ge.com
- Anil VarmaSchlumbergerE-mailová adresa ověřena na: slb.com
- william cheethamE-mailová adresa ověřena na: nycap.rr.com
- José Manuel CadenasFull Professor, Department of Information and Communications Engineering, University of MurciaE-mailová adresa ověřena na: um.es
- Witold PedryczE-mailová adresa ověřena na: ualberta.ca
- Keith DeckerAssociate Professor of Computer & Information Science, University of DelawareE-mailová adresa ověřena na: udel.edu
- Vipin RamaniCEO, Deep Indigo AI companyE-mailová adresa ověřena na: deepindigo.ai
- Ronald R YagerProfessor Iona CollegeE-mailová adresa ověřena na: panix.com
- Thomas R. KiehlNeural Stem Cell InstituteE-mailová adresa ověřena na: neuralsci.org
- Janusz KacprzykProfessor of Computer Science, Systems Research Institute, Polish Academy of SciencesE-mailová adresa ověřena na: ibspan.waw.pl
- José Luis VerdegayProfesor Emérito. University of GranadaE-mailová adresa ověřena na: ugr.es
- Boleslaw SzymanskiClaire and Roland Schmitt Distinguished Professor of Computer Science, Rensselaer PolytechnicE-mailová adresa ověřena na: rpi.edu
- Mark EmbrechtsChief Science Officer, CardioMag Imaging, Inc. and Professor of Mechanical Aerospace and NuclearE-mailová adresa ověřena na: rpi.edu
- A JovanovicstuttgartE-mailová adresa ověřena na: risk-technologies.com
- John YenProfessor of Data Sciences, The Pennsylvania State UniversityE-mailová adresa ověřena na: psu.edu
- KIMON P VALAVANISUniversity of DenverE-mailová adresa ověřena na: du.edu
Sledovat
Piero P. Bonissone
Independent Consultant, Former Chief Scientist at GE Global Research
E-mailová adresa ověřena na: ieee.org